GTEM小室是一種用于電磁兼容性(EMC)測試的設(shè)備，傳統(tǒng)的EMC測試方法通常采用開放式測試環(huán)境，即在無限制的自由空間中進行測試。但這樣做存在很多問題，例如測試結(jié)果可能受到外部環(huán)境因素的影響，導(dǎo)致測試數(shù)據(jù)不準確等。因此，GTEM小室應(yīng)運而生，它可以在一個封閉的空間內(nèi)進行測試，可以更加準確地模擬實際工作環(huán)境中的電磁場情況。
GTEM小室的結(jié)構(gòu)非常特殊，其內(nèi)部呈現(xiàn)出一個類似于長方體的形狀。頂部和底部各有一個開口，可以讓測試設(shè)備通過，并連接到測試設(shè)備的電纜上。同時，GTEM小室的側(cè)壁也被打孔，以便安裝測試設(shè)備和探頭。它能夠提供一個廣泛的頻率范圍(DC-18GHz)的測試環(huán)境，因此可以測試各種類型的電子設(shè)備，包括無線電、通信、雷達和衛(wèi)星等。此外，它還可以測試各種類型的輻射干擾和抗干擾性，例如導(dǎo)電噪聲、電磁波干擾等。
為了確保測試結(jié)果的準確性，GTEM小室必須經(jīng)過嚴格的校準和驗證。這通常需要使用一些標準參考源，例如開路、短路和50歐姆負載等。在進行實際測試之前，還需要對測試設(shè)備進行預(yù)處理，例如去除干擾源和添加濾波器等。
GTEM小室全稱為吉赫茲橫電磁波傳輸室，是電磁兼容領(lǐng)域新近發(fā)展起來用于寬帶測量評定被測設(shè)備電磁兼容性能的新技術(shù)。它繼承了非對稱式TEM小室的損耗小、場強均勻、場強精確可調(diào)等優(yōu)點，吸取了無反射室可測頻率高的優(yōu)點，同時又彌補了TEM cell對頻率上限的限制及內(nèi)部容積與可使用頻率上限成反比等不足之處，GTEM小室的頻率范圍可從直流至數(shù)GHz 以上，其內(nèi)部容積與整體比值大，對被測物體大小的限制與頻率無關(guān)，使用時對外界環(huán)境無特殊要求。因此，GTEM小室很早就被歐洲標準認可作為電磁輻射敏感度(EMS)測試設(shè)備，并可作為電磁輻射干擾(EMI)的測試設(shè)備。由GTEM小室組成納電磁兼容性能測試系統(tǒng)較之在電波暗室、開闊場地、屏蔽室中采用天線輻射，接收等測試方法可節(jié)省大量資金，免去對外界測試環(huán)境條件的要求，所需配置的儀器設(shè)備簡單、效率高，并可數(shù)倍地提高測量速度，極易實現(xiàn)自動化測量。
總之，GTEM小室是一種十分重要的EMC測試設(shè)備。它不僅可以更加準確地模擬實際工作環(huán)境中的電磁場情況，還可以提供廣泛的頻率范圍，以測試各種類型的電子設(shè)備的輻射干擾和抗干擾性。雖然它需要經(jīng)過嚴格的校準和驗證，但它的優(yōu)點遠遠超過了這些努力。
GTEM小室參照標準
YD/T 1690.2-2007 《中華人民共和國通信行業(yè)標準》–電信設(shè)備內(nèi)部電磁發(fā)射診斷技術(shù)要求和測量方法(150KHz~1GHz) 第2部分:輻射發(fā)射測量TEM小室和寬帶TEM小室方法
IEC 61967-2(2005-09)《集成電路-電磁騷擾的測試方法(150KHz~1GHz)第2部分：輻射騷擾測量——TEM小室和寬帶TEM小室法》
DINEN61000-4-20-2011 《電磁兼容性(EMC)-第4-20部分：試驗和測量方法.橫向電磁(TEM)波導(dǎo)的輻射和干擾試驗》
IEC 61000-4-20-2010 《TEM室測試方法》
GB/T 17626.20-2014 《電磁兼容、試驗和測量技術(shù)》橫電磁波(TEM)波導(dǎo)中的發(fā)射和抗擾度試驗
GJB151B-2013 《設(shè)備和分系統(tǒng)電磁發(fā)射和敏感度要求與測量》-RS105瞬態(tài)電磁場輻射敏感度
ISO 11452-3/SAE J1113-24 《道路車輛用窄帶發(fā)射的電磁能量進行電子干擾部件試驗方法》-TEM小室法
IEEE 1309-2013 《頻率為9KHz~40GHz的電磁場傳感器和探頭(天線除外)的校準》
JJG 561-88 /JJG 562-88《中華人民共和國國家計量檢定規(guī)程》
主營產(chǎn)品：
TEM小室，GTEM小室，測試儀器儀表，屏蔽室，電波暗室，電磁兼容
產(chǎn)品型號：FF-GTEM
更新時間：2025-06-25
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